半自動劃片機/切片機（6英寸）-半導體材料 參考價：面議
半自動劃片機/切片機（6英寸）-半導體材料適用于 6 英寸晶圓– 6 英寸硅晶圓– 緊湊尺寸的占地面積（寬 x 深 = 590 x 880）– 多處安裝劃片可劃...
半自動劃片機（8英寸，12英寸）-半導體材料 參考價：面議
半自動劃片機（8英寸，12英寸）-半導體材料– 最大 16 英寸– 重復精度（Y 軸） ： 0.001– 可選 3 英寸刀片、BBD（刀片斷裂檢測儀）、NCS（...
半自動切片機（16英寸）-半導體材料 參考價：面議
半自動切片機（16英寸）-半導體材料– 最大 16 英寸 （300mm x 300mm）– 真空卡盤：300mm x 300mm 方形
全自動劃片機/切片機（12英寸）-半導體材料 參考價：面議
全自動劃片機/切片機（12英寸）-半導體材料– 最大 12 英寸硅晶圓– 真空吸盤：6~12英寸可切割材料：硅晶圓、QFN、陶瓷、印刷電路板、石英、LED、移動...
校準晶圓標準品-半導體表征 參考價：100000
校準晶圓標準品-半導體表征污染晶圓標準品、校準晶圓標準品和二氧化硅顆粒晶圓標準品使用顆粒沉積系統生產，該系統將首先使用差分遷移率分析儀（DMA）分析PSL尺寸峰...
表面光電壓譜--半導體表征 參考價：面議
表面光電壓譜--半導體表征表面光電壓譜進行專業研究時，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統作為開爾文探針系統的升級配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國KP開爾文探針掃描-半導體表征 參考價：面議
英國KP開爾文探針掃描-半導體表征英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數（Work Function）或半導體、絕緣表面的...
界面力學分析儀-材料表征 參考價：面議
界面力學分析儀-材料表征界面力學分析儀可以用來直接測量表面（諸如：無機物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態力和動態力，并在分子級領域內研究界面...
飛行時間二次離子質譜-材料表征 參考價：面議
飛行時間二次離子質譜-材料表征飛行時間二次離子質譜是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-...
大氣環境光電子發射光譜-材料表征 參考價：面議
大氣環境光電子發射光譜-材料表征1、大氣環境下使用2、功能：光電子發射光譜+開爾文探針3、測試能級：費米能級，導帶底能量，價帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬...
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統-材料表征 參考價：面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統電子槍：型號 ：帶可調焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓：0-3KV束流電流：大50u...
表面光電壓譜系統-材料表征 參考價：面議
表面光電壓譜系統-材料表征表面光電壓譜系統150瓦直流可控光強的石英鹵素燈可以達到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質量，全數字化控制所有參數，包括光照強度和波...
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價：面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...
超高真空開爾文探針-材料表征 參考價：面議
超高真空開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，
氣氛可控開爾文探針-材料表征 參考價：面議
氣氛可控開爾文探針-材料表征氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...
深能級瞬態譜儀-半導體表征 參考價：面議
深能級瞬態譜儀-半導體表征半導體領域研究和檢測半導體雜質、缺陷深能級、界面態等的重要技術手段。根據半導體P-N 結、金－半接觸結構肖特基結的瞬態電容（△C～t）...
單點開爾文探針-材料表征 參考價：面議
單點開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試系統。
皮可安培計-材料表征 參考價：面議
皮可安培計-材料表征技術參數：接口輸入: BNC; 模擬輸出: Banana jacks偏壓選項：無偏壓/ 內置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏...
飛行時間二次離子質譜2-材料表征 參考價：面議
飛行時間二次離子質譜2-材料表征飛行時間二次離子質譜是一種靈敏的表面分析技術，可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-S...
開爾文探針系統-半導體表征 參考價：面議
開爾文探針系統-半導體表征開爾文探針系統材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種較靈敏的表面分析技術。
皮可安培計（USB接口）-材料表征 參考價：面議
皮可安培計（USB接口）-材料表征技術參數：接口輸入: BNC; 模擬輸出偏壓選項：無偏壓/ 內置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）
俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征 參考價：面議
俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirro...
深能級瞬態譜儀2-半導體表征 參考價：面議
深能級瞬態譜儀2-半導體表征深能級瞬態譜儀是半導體領域研究和檢測半導體雜質、缺陷深能級、界面態等的重要技術手段！測試功能：電容模式、定電容模式、電流模式、（雙關...
開爾文探針掃描系統-半導體表征 參考價：面議
開爾文探針掃描系統-半導體表征開爾文探針掃描系統是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(...
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